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  Advanced Semiconductor Technologies - Characterization and Advanced Defect Imaging of PV Modules and Systems

Dozentinnen/Dozenten
Prof. Dr. Christoph J. Brabec, Dr. Jens Hauch

Angaben
Praktikum
1 SWS, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 1, Sprache Englisch
Zeit und Ort: n.V.

Studienfächer / Studienrichtungen
WF MWT-MA-WET ab 1 (ECTS-Credits: 1)
WF NT-MA-WET ab 1 (ECTS-Credits: 1)
WF ET-MA-MWT ab 1 (ECTS-Credits: 1)

ECTS-Informationen:
Credits: 1

Zusätzliche Informationen
Erwartete Teilnehmerzahl: 15, Maximale Teilnehmerzahl: 20

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